HORIBA电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)Ultima Expert LT

HORIBA电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)Ultima Expert LT

高性价比的电感耦合等离子体发射光谱仪

HORIBA科学仪器部拥有超过35年的高性能ICP-OES开发及生产历史

Ultima Expert LT性能优良且价格适中，能够处理各种复杂样品。

Ultima Expert LT整合了Jobin Yvon高性能光学系统的优势，在分析各类样品和基体时均具有非常突出的表现。

Ultima Expert LT由强大的分析软件驱动，具有大量的分析功能，可以进行一些定制化的控制和分析。

高稳健性使Ultima Expert LT可以轻松地应用于：矿物、化学制造、高盐、润滑油（磨损金属）、石化、冶金制造及贵金属提炼等分析。

Ultima Expert LT能够满足您的各种应用需求！

高性能、高性价比ICP-OES

UltimaExpertLT性能优良且价格适中，能够处理各种复杂样品。

·采用了高刻线全息光栅、1m焦距的高质量光学设计、特色的全等离子观测，提供高分辨率、高灵敏度

·采用侧向观测、全等离子观测的方式，可提供低的检测下限

采用特色的护套气装置，对于高固含量样品具有好的稳定性，能够直接分析浓度30%样品

在120~800nm范围内提供恒定分辨率，加配远紫外装置，能够提高卤素元素的灵敏度

高光学分辨率降低光谱干扰，在120~320nm内，分辨率<5pm

s3-base viewer

S3-base viewer显示整个S3-base数据库，由采集到的ICP实际光谱所建立，内含50000条以上谱线，帮助识别未知样品的发射线

提供完整的S3-base数据库

显示分析物的波长及其相对强度和检测限

显示选定波长附近的潜在发射线列表，包括等离子体固有发射线，以及它们的相对强度和检测限。

图形显示被分析物的发射线和潜在的发射线，便于识别。

简要介绍

Ultima Expert LT 为堀场高性能垂直炬管 ICP‑OES，采用双光栅 + 垂直炬管光学系统，宽波长 160‑1000nm，200nm 处光学分辨率≤0.007nm，具备高光谱分辨能力，有效处理复杂基体光谱干扰。垂直炬管设计耐高盐、高基体样品，适合高盐分、稀土、地质、高纯材料样品分析；可同时测定常量、微量、痕量多元素。可配置自动进样器、氢化物发生装置、耐 HF 进样系统。配套 Horiba 专业分析软件，实现方法建立、谱图解析、干扰校正、数据积分、报告输出。广泛用于地质矿产、稀土材料、半导体高纯材料、环境、化工、金属冶金、食品医药领域。

核心硬件要点

光路：全光谱直读，双光栅，波长 160‑1000nm，高分辨率，抗光谱干扰强

炬管结构：垂直炬管，耐受高盐高基体，减少基体沉积，维护周期长

射频发生器：固态射频发生器，功率稳定

可扩展：自动进样器、氢化物发生、耐氢氟酸进样系统、有机进样模块

实际案例用途

案例 1：稀土、地质矿产样品

样品：稀土矿、矿石、地质消解液

用途：稀土元素、主次量元素同时测定；高分辨率分离稀土元素之间严重光谱干扰，矿产资源勘查、稀土材料质量把控。

案例 2：半导体高纯材料

样品：高纯酸、高纯试剂、半导体化学品、靶材消解液

用途：痕量杂质元素检测，ppb 级别杂质筛查，半导体原材料品质管控。

案例 3：环境监测

样品：地表水、污水、土壤、固废消解液

用途：金属元素多元素同时检测，满足国标环境样品分析，重金属污染筛查。

案例 4：冶金、金属材料

样品：合金、金属镀层、钢铁、有色金属消解液

用途：合金中主量、微量杂质元素检测，金属材料成分分析。

案例 5：化工、医药食品

样品：化工原料、原料药、食品、保健品消解液

用途：重金属杂质检测，药品元素杂质、食品重金属风险控制。