堀场HORIBAX荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪）XGT-9000SL

堀场HORIBAX荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪）XGT-9000SL

产品具体介绍

XGT‑9000SL 是堀场微区 X 射线荧光光谱仪，搭载微聚焦 X 射线管，可实现微小区域元素分析、元素面分布成像，同时支持镀层膜厚测量，属于无损分析设备，样品无需消解、无需制样。

核心配置：微聚焦 X 射线光管，SDD 硅漂移探测器；配置光学显微摄像头，可直观定位微小待测点；支持点分析、线扫描、二维面扫描 Mapping 成像。

测试对象：固体、粉末、薄膜镀层、块状样品，导电 / 非导电样品均可直接测试，不需要喷金。

两大核心能力：①元素定性定量，从硼到铀元素分析；②多层镀层厚度测量；③微区元素分布成像，查看样品表面元素分布情况。

软件功能：自动谱图解析、定量计算、膜厚计算、元素成像图输出，可导出报告。

机型特点：微区分析能力突出，适合微小颗粒、局部异物、微小焊盘、局部镀层检测；兼顾常规大面积样品检测。

实际案例用途

电子半导体行业

PCB 电路板焊盘镀层厚度检测；元器件微小异物颗粒元素分析，做失效溯源；半导体零部件表面污染物筛查。

五金电镀行业

五金件多层镀层厚度测量，镍、铬、金、银等镀层定量；局部镀层不均匀性检测，管控电镀工艺。

材料与高分子行业

塑料、橡胶中重金属元素筛查；填料元素定性；复合材料组分分布 Mapping 成像。

文博考古领域

古器物颜料、金属文物微区无损元素分析，不破坏珍贵文物，判别材质、颜料成分。

工业失效分析

零部件表面斑点、污渍、微小颗粒做元素定性，查找质量问题根源；来料材料成分快速筛查。

RoHS 合规筛查

电子元器件、塑胶产品重金属快速筛查，辅助 RoHS 管控。