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品牌:日本大塚电子/Otsuka
产地:日本
型号:ELSZneo
400-616-7676转3323
核心参数
仪器介绍
OTSUKA 大塚电子 Zeta 电位・粒径测试系统ELSZneo
通过光散射进行物理性质评估进入新阶段,ELSZneo
这是ELSZ系列的最高端模型,能够测量稀溶液~浓溶液中的zeta势和颗粒大小,以及分子量测量。 作为一项新功能,采用多角度测量以提升颗粒尺寸分布的分离能力。 它还支持颗粒浓度测量、微观流变学测量和凝胶的网格结构分析。
新升级的Zeta电位板单元现已支持在盐碱等高盐环境中进行测量,这得益于新开发的高盐度涂层。 还推出了能够测量3微升颗粒尺寸的超微电池单元,进一步拓展了其在生命科学领域的潜力。
特色
稀释至浓溶液(~40%)*1能够在较大浓度范围内测量粒子直径和ζ势
多角度测量使得具有高分离能力的颗粒尺寸分布能够测量
能够在高盐度条件下测量平面样品中的ζ电位
颗粒浓度可以通过静光散射方法测量。
微流变学测量可以通过动态光散射方法实现。
通过测量多个凝胶样品,可以评估凝胶网格结构和不均匀性
使用标准流单元连续测量颗粒直径和ζ势
可在0~90°C的宽温范围内进行测量
温度梯度函数支持蛋白质及其他材料的变性和相变温度分析
通过实际测量细胞内的电渗透流动和绘图分析,提供高度精确的ζ电位测量结果。
可安装荧光切割滤光片(可选)
目的
它非常适合基础和应用研究,不仅涉及细颗粒,还涉及薄膜和平面样品的表面科学,涵盖界面化学、无机材料、生命科学、半导体、高分子、生物学、药学和医学等领域。
新功能材料领域:
燃料电池相关(碳纳米管、富勒烯、纤维素纳米纤维、功能薄膜、催化剂、纳米金属)、生物纳米相关(纳米胶囊、树枝树、DDS、生物纳米颗粒)、纳米气泡、生物相容材料等。
陶瓷与色料行业
陶瓷(二氧化碳、氧化铝、二氧化钛等) 无机溶胶的表面改性、分散与凝集控制颜料的扩散与凝固
控制(碳黑、有机颜料) 浆料样品色彩滤光器关于浮游矿物藏品介质吸附的研究
半导体领域:阐明硅晶圆表面异质附着机制;研析磨料与添加剂及晶圆表面的相互作用;CMP浆液
高分子
与化工行业:乳剂(油漆和粘合剂)的分散与聚集控制,乳胶表面改性(制药和工业),聚合物电解质(如苯乙烯磺酸盐和聚羧酸)功能性研究,功能性纳米颗粒:造纸和纸浆造纸工艺控制及纸浆添加剂研究
制药和食品行业
领域:乳剂(食品、香料、医用、化妆品)、蛋白质功能的分散与聚集控制;脂质体和囊泡的分散与聚集控制,表面活性剂(胶束)的功能性
核心参数:
| 表单字段 | 填写内容 |
|---|---|
| 测量原理 | 动态光散射 DLS(粒度测试)、电泳光散射 ELS(Zeta 电位测试);附带分子量测定、粒子浓度、微流变解析模块 |
| 电位值范围 | -200~+200mV |
| 粒度检测范围 | 0.6nm‑10μm |
| PH 应用范围 | 2‑12(随选配样品池变化) |
| 使用温度范围 | 0‑90℃ |
| PH 分辨率 | 无此项参数☑勾选 |
| 温度分辨率 | 0.1℃ |
| 准确性 | 粒径:±2%;Zeta 电位:±2mV;分子量相对误差≤10% |
| 重复性 | 粒径≤±2%;Zeta 电位≤±2mV |
| 温度范围 | 0‑90℃,温控精度 ±0.1℃ |
| 测量时间 | 10‑120s,根据样品条件变化 |
| 样品量范围 | 标准池数百 μL;选配超微量池最低 3μL |
| 电导率 | 0‑200mS/cm(适配高盐样品,受样品池限制) |
产品具体介绍
ELSZneo 是大塚电子旗舰款台式纳米粒度 Zeta 电位分析仪,整机出厂集成全套高级分析模块,不需要后期追加选购。
可以同时完成纳米粒径、Zeta 电位、重均分子量、粒子浓度、微流变凝胶特性测试;0‑90℃宽温控,支持温度梯度扫描实验,适合蛋白变性、相变、温度对分散体系影响研究。
从极低浓度到 40% 高浓度浆料可直接进样,不用稀释,保留样品原始分散状态;适配生物高盐生理体系。
丰富样品池选配:3μL 超微量池用于珍贵少量样品;固体样品池可测薄膜、基板表面 Zeta 电位;流动循环池可用于工艺旁路连续监测。
软件输出完整分布图谱,数据可溯源,满足科研论文、医药 GMP 质控、工厂体系审核归档。
实际案例用途
生物医药:脂质体、纳米药物、外泌体、蛋白;同时测粒径、电位、分子量,评估制剂稳定性、蛋白聚合行为。
高分子科研:高分子溶液、凝胶体系;开展微流变测试,解析凝胶网络、分子聚集行为。
纳米新材料:纳米粉体、量子点、碳材料,评价改性分散效果,做多角度粒径解析。
锂电、涂料、乳液:高浓度浆料,直接检测,评估批次稳定性,预判团聚沉降。
半导体 CMP 抛光液:抛光颗粒粒度、浓度、电位全套质控。
界面化学(选配固体池):基板、薄膜表面 Zeta 电位测试,评估表面改性效果。
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