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OTSUKA 大塚电子 智能薄膜测厚仪SM‑100 系列

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OTSUKA 大塚电子 智能薄膜测厚仪SM‑100 系列

品牌:日本大塚电子/Otsuka

产地:日本

型号:SM‑100 系列

400-616-7676转3323

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仪器介绍

OTSUKA 大塚电子 智能薄膜测厚仪SM‑100 系列 

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高精度便携式胶片厚度计:“

无法准确测量你想测量的位置”“

测量结果因人而异”

“测量准确性较差”你在测量

胶片厚度时有过类似的经历吗? 智能薄膜厚度计具备以下功能,能帮你解决问题。

· 方便的类型,可以带到生产现场

· 使用简便,任何人都能使用

· 即使手持式机也能实现高精度测量

· 即使是成形样品,也可实现无损测量

子型号区分

型号定位单层膜厚范围多层膜能力
SM‑100P(Pro 专业型)高端款,支持多层膜0.1‑100 μm最多 3 层解析
SM‑100S(Standard 标准型)基础款,仅单层膜1‑50 μm仅单层膜测量

核心技术参数

项目规格
测量光斑φ1 mm(标配平面探头)
测量时间≤1 s / 次
重复性2.1σ:0.01 μm(1μm 氧化硅膜)
整机重量约 1.1 kg,手持便携,内置锂电池 + 外接电源双供电株式会社ロ...
尺寸138×198×61 mm,触控显示屏
数据输出USB 导出文本数据,内置材料折射率库,支持自定义材料参数
探头选配标配平面探头;可选笔式探头(狭小位置)、非接触台式载台组件大塚電子

产品详细介绍

SM‑100 系列是便携式手持型分光膜厚仪,区别 FE‑300F 台式整机,可带到产线现场、来料仓库现场检测,不用局限实验室工位。

无需制作校准曲线,开机即可直接测量;透明基材(PET、玻璃)样品,抑制基板背面反射干扰,适合柔性胶片、涂层样品。

SM‑100P 支持最多 3 层复合薄膜分别解析厚度;SM‑100S 仅单层膜,适合简单涂层快速巡检。

探头线缆可灵活摆动,探头角度 270° 可调;可测平面、局部狭小位置样品;选配笔式探头可测缝隙、边角点位。

整机密闭光路,抗车间环境杂散光;触控屏幕,操作简单,现场人员也可上手使用。

实际落地案例用途

案例 1:光学柔性胶片(PET/PEN 基材)

  • 测试对象:硬质涂层、AR 增透膜、防指纹涂层、保护膜、偏光片涂层

  • 用途:产线现场巡检,来料入库快速抽检,评估涂布厚度,不用取样拿回实验室。

案例 2:显示与光学零部件

  • 测试对象:ITO 导电膜、光学滤光片、各类功能涂层

  • 用途:现场多点快速筛查,不良品快速甄别。

案例 3:半导体、新材料研发

  • 测试对象:光刻胶、保护涂层、各类高分子涂布膜

  • 用途:实验室 + 产线两边通用,小批量工艺验证。

案例 4:汽车、零部件表面涂层

  • 测试对象:脱模涂层、防水防潮涂层、DLC 硬质涂层

  • 用途:工件边角、狭小位置点位,选配笔式探头完成局部点位测量。

可选配件

  1. 笔式探头:狭小位置、异形工件点位测量

  2. 台式非接触载台组件:把主机固定,当作简易台式膜厚仪使用

  3. 标准校准膜片;USB 数据导出软件


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