OTSUKA 大塚电子 延迟（相位差）测量装置RETS‑100nx

OTSUKA 大塚电子 延迟（相位差）测量装置RETS‑100nx 

这是一种与各种胶片兼容的文字测量装置，包括用于OLED的偏光片、层压相差胶片以及带有IPS液晶相差胶片的偏光片。

实现高速高精度测量，支持超高Re.60000nm。

可以测量胶片的层压状态，而不剥落或破坏胶片。

此外，在操作方面，它配备了易于使用的软件和校正功能，以解决样品重新定位引起的错位，实现简单且高精度的测量。

特色

我们专有光谱仪实现的高精度测量

■ 高精度

通过多波长测量实现

<高精度的原因>

·使用

专有高性能多通道光谱仪 ·提供大量透射信息，实现高精度

测量（ 获得的透射信息约为500个波长，约为其他公司产品的50倍。

■ 宽测量范围（延迟范围：0 ~ 60,000nm）

■ 理解延迟波长色散的形状

超高折射测量——支持超双折射薄膜的高速高精度测量——
■ 高留任率

多层测量——测量薄膜的各种堆叠状态，避免剥落且无损——

轴角校正函数——即使样品位置不对准，测量依然简单且准确——

■ 将样品重新定位10次，并比较有无角度校正的结果

【样品：相差胶片R85】

简单的软件——显著缩短测量和处理时间。 极大提升的可用性——

核心参数：

核心规格

延迟测量范围：0‑60000 nm，支持反向色散补偿膜测试

测量项目

光学薄膜：Re 面内延迟、Rth 厚度方向延迟、慢轴方位角、三维 nx/ny/nz 折射率（需倾斜台选件）

偏光片：吸收轴、偏光度、消光比、透过光谱

液晶盒：Cell‑Gap 盒厚 0‑600μm (Δn=0.1)、预倾角、扭曲角、取向角

硬件：100W 卤素光源，整机 480 (W)×520 (D)×765 (H) mm

特色功能：轴角自动补偿，样品摆放偏移不影响结果；多层复合膜直接分层解析，无需剥离样品

实际落地案例

OLED 圆偏光片：多层堆叠圆偏振片，不拆解直接测每层 Re/Rth、层间夹角，分析漏光、色偏，来料品质管控。

LCD 显示行业：IPS/VA 相位差补偿膜、TAC/COP 膜；液晶盒 Cell‑Gap 盒厚检测，研发与来料抽检。

车载光学、光学元器件：波片、光学补偿膜新材料配方评价。

可选配件

自动倾斜旋转载台（Rth 三维折射率解析）

XY 自动扫描载台，Mapping 面分布测量

标准石英波片校准样片