OTSUKA 大塚电子高速重放（高速相位差）测量装置RE‑200

OTSUKA 大塚电子高速重放（高速相位差）测量装置RE‑200 

特色

实现从0nm到的低（残差）延迟测量

实现高速延迟（Re.）测量与光轴

检测同时实现（相当于全球最快处理速度，时间少于0.1秒）

没有驱动部件，实现了高重复性

需要设置的测量项目更少，测量更简单。

除了测量550nm波长外，我们还提供多种波长系列

可

实现右向测量和全方向角度测量（需选配自动旋转倾斜夹具）

通过与拉伸测试机结合，可以同时评估薄膜的光弹性与偏振特性

（该系统为定制）。 ）

测量项目

延迟（ρ[deg.]， Re[nm]）

主方位角 （θ[deg.]）

椭圆率（ε）和方位角（γ）

三维折射率（NxNyNz）

测量目标

相位对比胶片、偏振胶片、椭圆胶片、可视角改善胶片、各种功能胶片

透明且各向异性的材料，如树脂或玻璃（如玻璃畸形、畸变等）

核心参数：

产品详细介绍

RE‑200 为高速单点相位差检测仪，和 RETS‑100nx 为互补机型：

RE‑200：高速单色，无机械旋转部件，＜0.1s / 点，适合动态、产线、拉伸同步测试

RETS‑100nx：分光多波长，做 Re/Rth 色散、多层膜解析，侧重实验室研发

核心特点

无驱动机械部件：CCD 一次快门获取全部偏振信息，没有偏振片旋转机构，长时间连续测量稳定性高、再现性好。

可测极低残留相位差，测量范围0‑1000 nm Re。

测量项目：Re 相位差、主轴方位角、椭圆率、方位角；选配倾斜旋转载台可测 Rth 三维折射率 Nx/Ny/Nz。

拓展能力：可对接拉伸试验机，同步获取薄膜拉伸形变过程的光弹性相位差动态变化（特注系统）。

整机尺寸：300 (W)×560 (H)×430 (D) mm，重量约 20kg；光源：卤素灯 / LED 可选。

实际落地案例用途

案例 1：光学薄膜动态评价

对象：拉伸状态下相位差膜、TAC/COP 光学膜；

用途：搭配拉伸试验机，实时观测薄膜受力形变时相位差与光轴角度动态变化，研究光弹性特性。

案例 2：显示材料来料与产线抽检

对象：低延迟补偿膜、视角改善膜、椭圆偏振膜；

用途：高速单点批量检测，适合产线离线抽检，快速筛查残留相位差。

案例 3：树脂、玻璃形变评价

对象：光学树脂、变形玻璃；

用途：检测材料应力带来的残余双折射相位差。

可选配件

自动旋转倾斜载台：实现 Rth 三维折射率、全方位角度评价

XY 自动扫描载台：实现样品面分布 Mapping 测量

定制波长光源组件