搜索
品牌:米卡萨/MIKASA
产地:日本
型号:MA-60F
400-616-7676转3323
仪器介绍
MIKASA 米卡萨掩膜对准曝光机(接触式光刻机)MA-60F
品牌:MIKASA(ミカサ株式会社,日本米卡萨)品名:MA-60F 接触式掩膜对准曝光机(Mask Aligner,6 英寸晶圆科研光刻设备)
日本 MIKASA 米卡萨 MA-60F 接触式有掩膜对准曝光机(Mask Aligner),科研级 6 英寸晶圆光刻设备,搭载 500W g/h/i-line 宽谱紫外光源,最小加工线宽 1μm,20 倍物镜下对准精度<1.5μm,支持软接触、硬接触两种曝光模式。标配双视野对准显微镜、UV 累积光量计与防震台,支持 SU-8 厚胶与常规光刻胶图形制备。常搭配 MS-B200 匀胶机、ULVAC DA-60S 真空泵搭建光刻工艺平台,适用于高校微纳实验室、MEMS 器件、大面积微流控芯片、光学元件研发试样制备。
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 最大基板尺寸 | φ6 英寸晶圆,基板最大厚度 2mm |
| 最大掩膜 Mask 尺寸 | 6×6 英寸 |
| 曝光光源 | 500W 高压汞灯,g/h/i-line 宽谱紫外光 |
| 照度 | 14mW/cm² @405nm,照度均匀性<±4.0% |
| 最小线宽 | 1μm(L&S) |
| 对准精度 | 20× 物镜条件下<1.5μm |
| 曝光模式 | 软接触 / 硬接触 双模式切换 |
| 对准系统 | 双视野对准显微镜,4×/10×/20× 物镜可选;X/Y/θ/Z 四维精密微调 |
| 曝光控制 | 定时模式 0~999.9s;累积光量计模式 1~9999 计数,UV 累计光量计标配 |
| 标配附件 | 防震台、掩膜 / 基板真空吸附机构、间隙测量功能 |
| 公用配套 | 压缩空气 0.5MPa;氮气 0.5MPa;真空 - 0.08MPa(基板吸附,可搭配 ULVAC DA-60S 真空泵) |
| 电源 | AC100~110V,20A |
| 外形尺寸 | 1200(W) ×1450(H) ×900(D) mm |
| 整机重量 | 350 kg |
6 英寸大基板科研级接触式光刻机,MA 系列里适配 6 寸晶圆型号,和 MA-20 为同系列,基板尺寸升级。
软 / 硬接触双曝光模式,硬接触适合高精度薄层光刻;软接触保护掩膜,适配 SU-8 厚胶高深宽比工艺。
内置 UV 累积光量监测,可按曝光能量控制,抵消汞灯光源衰减,保证光刻工艺重复性。
四维精密载台 + 双视野对准显微镜,掩膜与晶圆对位精度高,自带掩膜 - 晶圆间隙测量。
标配防震台,降低外界振动干扰,保障微纳图形加工精度。
高校微纳实验室、科研院所 MEMS 器件、6 英寸硅片光刻制备;
大面积微流控芯片、柔性薄膜器件、光学光栅、传感器芯片研发;
厚胶 SU-8 光刻工艺,制备高深宽比微结构;
搭配MS-B200(8 寸匀胶机,也可选用 MS-B150),组成完整 6 英寸光刻工艺链路:
匀胶涂胶 → MA-60F 曝光 → 显影
拨打电话
留言咨询