日本 Lambda Vision 拉姆达显微拉曼光谱单元MicroRAM-300

日本 Lambda Vision 拉姆达显微拉曼光谱单元MicroRAM-300

这是一台显微拉曼光谱仪。

这是一种低成本的高性能显微拉曼光谱单元。 通过使用市售显微镜，你可以获得与传统显微镜相当的高观察性能，并在样品阶段实现便利。 标配USB-CCD摄像头用于观测，光谱仪部分的波长可自动驱动，实现自动光谱连接测量。 可选选项包括XY级级映射和Z对焦深度方向映射。 CCD探测器还采用Andor的高灵敏度CCD探测器。 此外，薄膜样品的弱信号可用可选的斜光单元测量，且不受薄膜下方基板噪声信号干扰。

规格
光谱学部分

光学管段

详情

（1）薄膜样品用斜射激光照射单元（可选）

（2）拉曼滤波器两波长切换

产品概述

MicroRAM-300 是日本 Lambda Vision（ラムダビジョン，拉姆达）推出的高性能模块化显微拉曼分光装置，主打兼顾高性能与性价比，定位高于 Mobile-RAM100/200，是该系列旗舰显微拉曼型号。 300mm 焦距 F/4.2 分光系统，最多可搭载 3 块光栅，采用冷却型 CCD 探测器（滨松或 Andor 可选），支持最多两路激光选配。既可搭配显微镜做微米级微区拉曼分析，也可外接光纤探头做宏观原位检测；支持 OEM 集成，广泛用于半导体、第三代半导体、显示面板、新材料科研与 DAC 高压实验场景。

核心硬件与产品特点

1. 300mm 焦距、F/4.2 分光光学系统分光仓最大支持 3 片光栅自由切换（1800/1200/830/600gr/mm 等），可按需切换高分辨率窄波段或者宽光谱扫描模式，兼顾低波数采集与精细拉曼峰解析，适合晶体应力、碳材料缺陷分析。

2. 冷却 CCD 探测器制冷 CCD 降低暗电流噪声，长时间采集弱信号样品稳定性强，针对荧光干扰较强的有机薄膜、光刻胶、高分子材料，检出能力显著优于非冷却 CCD 机型。

3. 多激光源选配可选 473nm / 532nm / 632nm /785nm，最多可搭载两路激光；内置 ND 衰减片，激光功率连续可调，避免激光灼伤光敏样品。 标配 USB 观察相机 + 白色 LED 同轴照明，电脑端实时预览样品表面，精准定位微米级测试点位；选配电动 XY/Z 载台，可实现Mapping 面扫描、Z 轴深度逐层扫描、图像拼接，获取样品二维成分分布。

4. 模块化集成友好标准 C 接口光路，可直接对接金相显微镜；外接光纤探头，能够伸入真空腔体、狭小设备内部做原位无损检测；USB2.0 通讯，适合嵌入自动化检测平台、DAC 金刚石对顶砧高压实验装置。

5. 无损检测，样品无需复杂前处理固体、薄膜、粉末、晶体、凝胶均可直接测试；原厂 RamanSpec 分析软件，内置标准谱库，自动谱图比对、物质定性、应力计算、基线校正，可直接导出检测报告。

详细技术规格

行业实际用途

1. 半导体 & 第三代半导体（核心应用）

1. Si、SiC、GaN 晶圆晶体质量、晶格应力定量检测，区分单晶硅 / 多晶硅，评估外延层品质；

2. 晶圆表面微米级黑点、颗粒、碳污染物、有机残留异物成分定性，解析良率不良根因；

3. 光刻胶、钝化膜、塑封环氧料、封装粘接树脂材质鉴别；

4. DAC 金刚石对顶砧高压实验，红宝石荧光压力标定，原位监测高压下晶体物相与相变；

5. 真空腔体内部原位拉曼测试，无需破真空取样。

2. 显示面板行业（LCD / OLED / MiniLED）

1. OLED 有机发光层、ITO 导电膜、彩膜、偏光片、光学胶、密封胶、油墨微区材质识别；

2. 面板微小缺陷（析出物、烧蚀点、微小颗粒、气泡内含物）成分溯源，定位制程污染来源；

3. 光照老化实验，监测薄膜材料光照前后分子结构变化。

3. 高校科研院所、新材料研发

1. 碳材料：石墨烯、碳纳米管、碳膜的层数判定、D/G 缺陷峰分析；

2. 二维材料、无机晶体、陶瓷、矿物粉体物相鉴定、晶体相变、应力分析；

3. 高分子、橡胶、复合薄膜、光催化材料、药物晶体无损定性；

4. 搭配变温样品台，观测温度变化下材料分子结构动态演变。

4. 高端工业来料质检

原材料入库筛查，鉴别高分子、无机粉体牌号真伪；精密零部件表面微小涂层、污染物定性；可集成自动化产线定点在线检测。