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品牌:AITEC 艾泰克
产地:日本
型号:ZLBA-A 系列
400-616-7676转3323
核心参数
仪器介绍
AITEC艾泰克超高辉度光源ZLBA-A 系列 
特色
● 超高亮度照明箱:适用于
视觉和图像检查的超高亮度照明器,清晰照亮检查目标
● AC100–240V 兼容
全球电源,无需电压切换
● 1000级调光,恒流控制:
高精度调光可为您设置检查目标的最佳照明条件
● 配备光学反馈功能:自动稳定
照明,营造稳定检查环境,干扰最小
● 连续照明与频闪
灯切换 切换可匹配视觉检测或图像处理系统在连续照明模式与频闪灯
模式之间的切换
● 滤镜更换器兼容 支持
最多6种颜色滤镜,允许您根据目标物体和检查内容创建
定制光照条件
● 通过前面板操作实现内部控制:内部控制可通过
前面板上的每个开关实现。
● 外部控制支持:支持通过
并行信号、RS 232C 和局域网远程控制。可集成到
自动化设备和图像检测系统中。

用例示例
● 微离合器检测:高度准确地检测微磨损和不适
● 激光雕刻读数:强调细微不平整,提高雕刻的可见性和缺陷检测性能
● 毛刺、阶梯和磨损检测:对细毛盘、阶梯和磨损的高度灵敏检测
● 表面畸变与干涉条纹检测:清晰可见干涉条纹和畸变,有助于异常的可视化
● 高精度边缘检测与导线投影:支持轮廓提取和亚像素精度定位
● 厚度不均匀、条纹和波纹的检测:高度可视化片材和涂层薄膜中的不均匀、条纹和波纹
● 高速线成像:与频闪灯发射同步,在高速传输过程中清晰捕捉物体

供电规格:AC100~240V 宽电压,50/60Hz,无需切换电压,全球通用
调光性能:恒流控制,1000 阶精细调光;搭载光反馈稳定功能,自动补偿 LED 衰减,长时间照度波动极小
点灯模式:连续常亮 / 外部触发频闪(Strobe)可切换,支持和工业相机时序同步
接口通讯:并行触发信号、RS232C、LAN 网口,支持上位机远程控制
适配配件:配套玻璃光纤束(直线光纤、环形光纤、点光纤、线阵光纤均可选配);前端可加装滤光片,支持滤光片切换器选件
冷却方式:内置风扇强制风冷
LED 寿命:约 30000 小时(光衰至初始 70% 为基准)
工作环境:5~40℃,湿度 20~80% RH,无结露
输出形式:光纤耦合输出,光源主机和照射头分离
波长版本:白光为主,可选红外、紫外单色版本
✅ 超高亮度输出输出光强远超常规条形光源,可应对短曝光高速成像、微小凹凸缺陷,能清晰显现普通光源无法捕捉的微弱对比度缺陷(薄膜波纹、涂层厚薄不均、微小磨损)。
✅ 光反馈自动稳光内置光反馈传感器,实时监测输出光量;随 LED 老化自动补偿电流,长期运行照度稳定,减少视觉检测漂移,降低设备校准频次,适合 24 小时量产产线。
✅ 频闪 + 连续双模式,高速成像抑制拖影频闪模式接收外部触发信号,工件高速移动时,极短闪光定格画面,消除运动模糊;可用于高速卷材、旋转工件线阵相机成像;连续模式适合静态显微外观检查。
✅ 光纤分离式设计,工位散热友好光源发热主体放在设备机柜外部,检测工位只有光纤出光头,几乎无热量,避免光源发热导致薄膜、塑胶工件热变形;光纤可弯曲,狭小腔体、复杂多角度打光都能实现。
✅ 丰富通讯接口,自动化集成简单LAN/RS232 / 并行触发,直接对接 PLC、视觉控制器;支持远程切换亮度、启停、触发,方便自动化设备集成。
✅ 可选滤光片切换器,单台光源快速切换多种波段,实现多光谱检测,无需多台光源硬件。
场景:光学薄膜、涂布卷材在线高速线扫检测,检测涂层条纹、厚薄波动、表面波纹、干涉色斑。搭配滨松 S11108 线阵相机 + 线型光纤。选型理由
超高亮度支持微秒级短频闪曝光,卷材高速输送下,定格图像,消除拖影;
光反馈稳光,长时间生产不会因为 LED 衰减造成误检;
光纤伸入狭小卷对卷腔体,光源主机放在机柜外,不会加热薄膜造成形变。成像效果:薄膜表面微弱波纹、厚薄差形成的干涉条纹清晰可视化,普通条形光源很难捕捉这类低对比度缺陷。
场景:精密齿轮、微型离合器、精密轴类,检测微观毛刺、表面磨损、啮合不良、微小台阶。选型理由
高亮度光纤聚光,强化微观凹凸轮廓;
可更换光纤头,环形光纤做同轴照明,凸显微小划痕毛刺;
频闪同步,旋转工件高速检测,提升产线节拍。
场景:金属、塑料工件激光打码 / 镭雕字符,读取微小刻印,识别刻印残缺、模糊、断码。选型理由镭雕凹凸深度极浅,普通光源对比度不足;ZLBA-A 强光照射强化凹凸轮廓,让微细刻印清晰成像,稳定 OCR 识别。
场景:芯片载带、精密冲压件轮廓尺寸测量,亚像素精度边缘提取、定位引导。选型理由高亮度 + 光纤小光斑,边缘锐利;频闪同步配合高速产线,实现高精度尺寸测量,适合高精度装配定位。
场景:金相显微镜、数码显微镜照明,微小样品外观、裂纹、微划痕观察。选型理由主机光纤输出,可接显微镜光纤接口,亮度高且稳定;连续照明模式用于静态显微观察。
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