AITEC 艾泰克紧凑型光纤耦合 LED 光源 LLBKC 系列

AITEC 艾泰克紧凑型光纤耦合 LED 光源  LLBKC 系列 

特色

● 轻便紧凑设计，适合设备集成

● 电源：DC24V（标准）及可选交流适配器

● 适合更换变光圈和光纤光源

 ● 点状配置（定制），可选可变聚光镜 

● 适用于广泛应用

● LLBKD（白色型号）比LLBKC系列更明亮

用例示例

各种光导光源、透射光源、

线式相机光源、区域相机光源

、目视检查光源、图像处理光源

外部示意图;

一、核心规格参数

1. 整机尺寸：112 × 110 × 110 mm，重量约 1.4kg，体积紧凑，便于设备机柜集成

2. 供电：标准 DC24V 端子台供电；可选 AC 适配器 AC100~240V 宽电压

3. 调光：1000 阶精细恒流调光（0~999 级）；内置温度监测 + 光量补偿，点灯后照度快速稳定，抑制 LED 老化漂移

4. 冷却方式：风扇强制风冷（侧面进风、背部出风）

5. 适配光纤：玻璃光纤束，推荐光纤芯径 Φ8mm 以下 / Φ8~14mm 两档规格可选

6. 输出通道：单通道输出

7. 可选波长

• 可见光：白光、红 R、绿 G、蓝 B

• NIR 近红外 740~1000nm

• SWIR 短波红外 1000~1700nm（需要搭配 InGaAs 相机）

• UV 紫外版本

8. 通讯 & 控制：LAN 网口、外部 ON/OFF 触发端子；支持上位机网页远程调光、启停控制

9. LED 寿命：≥40000 小时（光衰至 70% 标准）

10. 消耗功率：典型 60~80W

11. 工作环境：0~40℃，湿度 30~85% RH，无结露

二、产品核心特点

✅ 小型轻量化，设备嵌入友好整机立方体小巧结构，相比 ZLBA-A 体积更小，适合空间有限的自动化设备机柜，大量用于小型检测设备、台式视觉检查机。

✅ 直接替换传统金卤光源光谱、光输出方式兼容老式金卤光纤光源，老设备改造项目可以直接替换，无需大幅改动机械结构；LED 方案无灯泡频繁更换，运维成本大幅下降。

✅ 多光谱可选，支持红外透检除常规可见光外，支持 NIR 近红外、SWIR 短波红外。利用红外穿透特性，实现可见光无法识别的同色异物、内部杂质检测；SWIR 波段可检测水分、硅材料穿透检测。

✅ 光量自动补偿，照度长期稳定内置 LED 温度监测，随温度、LED 老化自动补偿电流，开机后照度快速稳定，减少产线漂移，降低设备定期校准频次。

✅ 丰富控制接口，自动化集成简单RJ45 网口网页控制 + 外部硬件触发，PLC、视觉控制器可以远程切换亮度、开关光源；支持连续点灯模式。

✅ 光纤分体式，工位无热源光源主机放置机柜，仅光纤头放在检测工位；检测端几乎无发热，避免薄膜、塑胶工件受热变形；光纤可弯曲，狭小腔体、多角度打光都可实现。

三、行业应用案例详细分析

案例 1：包装内部异物、脏污透射检测（LLBKC NIR 近红外版本）

场景：食品药品包装、铝塑泡罩包装，可见光下异物与包装颜色接近无法区分；使用近红外光源 + InGaAs 相机做透射检测，识别塑料碎屑、毛发、金属杂质。选型理由

1. NIR 红外可以穿透包装基材，同色异物在红外下对比度凸显；

2. LLBKC 体积小，台式检检机、小型在线设备机柜容易安放；

3. LED 长寿命，对比传统金卤灯，不用频繁更换灯泡，减少停机维护。成像效果：可见光看不到的内部杂质，红外成像清晰检出。

案例 2：半导体晶圆 / 硅片内部缺陷、水分检测（LLBKC SWIR 短波红外）

场景：硅片、半导体载带，SWIR 短波红外光源，检测硅材料内部裂纹、水分、污染。选型理由

1. SWIR 波段光线可以穿透硅基底，识别内部缺陷；

2. 整机小巧，半导体小型检测机集成；

3. 光纤输出，主机远离晶圆工位，避免热源影响精密工件。

注意：SWIR 必须搭配 InGaAs 短波红外相机，普通硅基 CCD/CMOS 无法成像。

案例 3：精密零件镭雕刻印、微小划痕目视 / 机器视觉检测（白光版本，环形光纤）

场景：精密轴承、微型金属零件激光刻印 OCR 读取，微观划痕、磕碰缺陷检测。选型理由

1. 光纤接环形照明头，同轴打光，凸显很浅凹凸镭雕字符；

2. 替代老旧金卤光源，改造原有检测设备；

3. 光量补偿，长时间运行亮度稳定，不会慢慢变暗造成漏检。

案例 4：胶片、薄膜水分含量检测（SWIR 版本）

场景：涂布薄膜、造纸行业，利用水在 SWIR 特定波长的吸收峰，在线检测薄膜含水量。选型理由：LLBKC 短波红外波段匹配水吸收峰；体积小巧，适合加装在卷材产线旁小型检测模组。

案例 5：显微镜配套光纤照明（白光 / UV）

场景：数码显微镜、金相显微镜，用于样品外观、裂纹、荧光观察。选型理由：标准光纤接口，直接对接显微镜光纤导光管；UV 版本用于荧光观察。