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大日本科研 DNK接触式光刻曝光装置MA-1200

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大日本科研 DNK接触式光刻曝光装置MA-1200

品牌:大日本科研 DNK

产地:日本

型号:MA-1200

400-616-7676转3323

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仪器介绍

大日本科研 DNK接触式光刻曝光装置MA-1200
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主要特长

对应玻璃、Wafer、胶片等基材的实验研究用手动整面单次曝光机。也适合小批量生产。

可选择接触曝光(软接触、硬接触)和近接曝光。

对应最大尺寸为500mm×500mm的基板。根据用途和基板尺寸,配置有最佳组合的光学系统。其中包括:超高压水银灯(500W、1kW、2kW、3.5kW)、各种光学镜、特殊镜头、聚光镜等。

一、产品概述

MA-1200 是大日本科研 DNK推出的研究 / 小批量生产型手动一括有掩模接触式曝光机,定位高校实验室、研发中心、中小试产线,主打 6 英寸及以内晶圆、玻璃基板、柔性薄膜的光刻图形转移,支持接触 / 近接两种曝光模式,是 MEMS、微流控、FPC、化合物半导体研发领域的经典机型。

产品全称:MA-1200 手动整面接触式光刻曝光装置(常称 MA-1200A 升级版本)

二、核心技术规格

项目参数
最大基板尺寸200mm×200mm(4 英寸~6 英寸晶圆)
光源超高压水银灯,可选 500W / 1kW,i-line 紫外曝光
曝光模式硬接触、软接触、近接曝光三种模式切换
对位系统单眼 CCD 视觉对位,支持背面对位,可对碎基板、切割小片基板对位
核心机构自动间隙控制系统,精准控制掩膜版与基板间距,降低压伤风险
整机外形W1240 × D1100 × H1725 mm
整机重量约 400kg
适用基材硅晶圆、玻璃、石英、PET 柔性薄膜、复合基板

三、产品核心特点

  1. 多模式曝光,兼顾精度与良率硬接触:掩膜紧贴光刻胶,图形分辨率最高,适合高精度微结构;软接触:适度缓冲,减少基板颗粒划伤;近接曝光:掩膜和基板保留微小间隙,保护超薄 / 易碎基板,适合薄膜类试样。

  2. 兼容碎片、异形基板普通曝光机只能整片晶圆,MA-1200 可对切割后的碎片、小片样品对位曝光,非常适合实验室研发打样,大幅节省样品成本,高校、研究院使用频率很高

  3. 紧凑型手动机型,投入门槛低对比全自动量产曝光设备,MA-1200 占地小、配套环境要求宽松,不需要超大面积黄光洁净车间;兼顾研发打样 + 小批量试产,一机两用,是多品种小批量工艺的优选。

  4. 光学均匀性稳定DNK 自研聚光与反射光学系统,曝光面照度均匀性好,整片基板光刻胶图形一致性高,减少批次之间差异。

  5. 可升级双面曝光配置支持选配双面曝光模块,满足需要正反面套刻的器件(MEMS、微流控芯片)。

四、行业应用领域

  1. MEMS 微机电系统:压力传感器、加速度传感器、微流控芯片、微喷嘴、微通道结构光刻成型;

  2. 化合物半导体:氮化镓、碳化硅样品、光芯片试样、微型光电器件研发;

  3. FPC 柔性线路板:超薄柔性基材、小批量柔性线路图形试制;

  4. 光学薄膜与显示:微结构光学膜、光栅、微透镜阵列研发;

  5. 高校 / 科研院所:微电子、微纳加工实验室教学、课题试样制备。

五、行业案例分析

案例 1:临港化合物半导体企业(工业研发,双面曝光应用)

  • 背景:第三代半导体光芯片研发企业,需要 6 英寸碳化硅 / 氮化镓试样,需要双面光刻套刻,多品种、每次小批量几片样品,不适合采购昂贵全自动量产光刻机。

  • 选型:DNK MA-1200(选配双面曝光模块)

  • 使用价值: ① 支持小片试样,研发阶段不用整片晶圆,降低材料成本; ② 软接触模式保护脆性碳化硅基板,减少碎片报废; ③ 双面对位套刻精度满足器件结构要求;

后续客户复购,新增第 3 台 MA-1200 用于不同工艺线,用于新工艺预研。

案例 2:国内高校微电子实验室(科研教学、微流控芯片)

  • 背景:高校微纳加工平台,面向研究生课题,样品种类繁杂,硅片、玻璃、PDMS 微流控芯片都需要光刻,样品经常是切割后的小块基板。

  • 选型:DNK MA-1200 基础版

  • 使用价值: ① 支持碎基板对位,学生课题小块样品可直接曝光,样品利用率高; ② 三种曝光模式,方便对比硬接触 / 近接曝光的工艺差异,用于课题实验; ③ 操作上手门槛适中,满足教学与课题打样;

同平台搭配涂胶、显影设备,搭建完整小型光刻工艺链路。

案例 3:FPC 柔性电子企业小批量试制线

  • 背景:柔性线路板研发企业,新品打样,基材超薄 PET 柔性膜,掩膜直接接触容易拉伸薄膜产生形变。

  • 选型:DNK MA-1200,优先使用近接曝光模式

  • 使用价值: 近接曝光模式避免掩膜压伤、拉伸柔性薄膜;快速完成多款新品 FPC 图形验证,缩短新品开发周期;样品批次少、型号迭代快,设备适配柔性研发节奏。


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