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进口大日本科研 DNK无掩膜曝光装置MX-1205

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进口大日本科研 DNK无掩膜曝光装置MX-1205

品牌:大日本科研 DNK

产地:日本

型号:MX-1205

400-616-7676转3323

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核心参数

分辨率
2μm
光源
UV-LED 紫外光源
光源波长
365nm(i-line)
光强均匀性
±5%
曝光面积
单次 100×100mm,载台拼接最大 500×500mm

仪器介绍

进口大日本科研 DNK无掩膜曝光装置MX-1205
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一、核心参数

项目参数
曝光原理DMD 数字微镜阵列,无掩膜直接绘图曝光
最小线宽2μm
有效曝光区域100 × 100 mm(单次绘图幅面)
光源UV-LED i-line 365nm 紫外光源
对位精度±0.15μm
扫描曝光速度9mm/s(高速模式) / 4.5mm/s(高精度模式)
基板最大尺寸500 × 500mm(可拼接扫描,拓展大基板加工)
支持基板硅晶圆、玻璃、PI 薄膜、陶瓷基板
文件输入直接导入 CAD/GDSII 图形文件,无需制作光掩膜

二、产品详细介绍

MX-1205 属于 DNK MX 系列DMD 式无掩膜光刻系统,和前面 MX-150I(MX 系列小机型)为同一条产品线。核心原理依靠 DMD 数字微镜芯片,直接把 CAD/GDS 版图投射到光刻胶上,不需要光掩膜版,改图只需要电脑修改文件,不用重新制掩膜,非常适合新工艺研发、多品种小批量试样。

核心技术亮点

  1. DMD 数字动态成像,免掩膜传统 MA/MUM 系列都必须制作掩膜才能曝光;MX-1205 直接导入 GDSII/CAD,随时修改图形,样品打样周期大幅缩短,省去掩膜采购与制作成本。

  2. 高分辨率,对位精度优异最小线宽可达 2μm,多层套刻对位精度 ±0.15μm;支持正面标记对位、红外背面对位,透明 / 不透明基板都可实现多层套刻,适配 MEMS、微流控、光子学器件。

  3. 双档扫描速度9mm/s 高速模式用于大面积粗工艺打样;4.5mm/s 高精度模式用于精细微结构图形,兼顾效率与分辨率。单次 100×100mm,可通过载台移动拼接,最大支持 500×500mm 大基板。

  4. 365nm i-line UV LED 光源LED 紫外光源,启停快,功耗低,寿命优于传统汞灯;曝光能量数字化可控,可精准控制光刻胶曝光剂量,厚胶 / 薄胶工艺都适配。

工艺定位:研发打样、新工艺开发、多品种小批量试制;不适合大批量量产(对比 MA 系列掩膜曝光机,大批量生产效率偏低)。

三、行业案例分析

案例 1:MEMS 研究院,传感器结构工艺开发

客户痛点:新产品迭代快,每次改版都要做新掩膜,掩膜费用高、交期长;多种厚胶工艺,需要频繁修改微结构图形。方案:MX-1205收益

  1. 无需光掩膜,改图直接电脑修改 GDS 文件,试样周期从数周缩短至 1 天;

  2. ±0.15μm 套刻精度,满足多层 MEMS 结构套刻;

  3. 支持厚光刻胶,可制备三维立体微结构。

案例 2:微流控芯片研发企业

客户痛点:微通道结构反复迭代,样品数量少,不同芯片版图差异大,不适合开掩膜。方案:MX-1205 高精度模式(4.5mm/s)收益快速迭代微流道设计;玻璃 / PDMS 基板均可加工,单次 100mm 幅面,小芯片一次多片曝光。

案例 3:高校微纳实验室、光学器件研发

客户痛点:课题多、图形种类杂,学生开发多种微光学结构(微透镜、衍射光栅),预算有限,不能频繁采购掩膜。方案:MX-1205 基础版收益一台设备支撑多个课题,不同图形无需掩膜;可加工硅、玻璃、陶瓷多种基材,是科研平台常用无掩膜光刻设备。

案例 4:半导体封装工艺研发

客户痛点:封装基板重新设计打样,多版本图形验证,试样数量少。方案:MX-1205收益快速验证线路图形,降低前期研发成本;可配合薄干膜、液态光刻胶工艺。


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