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品牌:FLUORO福乐
产地:日本
型号:F001
400-616-7676转3323
仪器介绍
日本 FLUORO 福乐全氟 PTFE 耐化学真空吸笔F001 
真空镊子的主体使用氟镊(4F-PTFE)。 通过巧妙结合树脂的优良性能,通过精密加工,我们保证在长时间内保持气密性和耐用性的稳定性能。
吸附尖端采用PEEK,其耐化学性、耐热性和机械强度均表现出色。加工后,经过热处理和镜面处理,以保持长期稳定性能。
吸附芯片有各种尺寸和材料,晶圆尺寸也种类繁多。
管子可以制成Φ3×5和Φ4×6两种尺寸。
F系列(耐化学型)示例代码符号
一、基础技术规格
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 本体材质 | PTFE(聚四氟乙烯 / 特氟龙)一体成型,阀体同样氟树脂,无金属接触药液 |
| 阀门类型 | NC 常闭型:按住笔身按钮→开启真空吸附;松开按钮→切断负压、释放工件 |
| 笔身尺寸 | 总长 145mm,最大外径 14mm;整机重量约 30g,轻量化手持设计 |
| 真空接口 | 适配 φ3×φ5mm / φ4×φ6mm 真空软管,配套 FLUORO 真空发生器 FV 系列(单独选购) |
| 可选接头 | X 万向球头款(360° 旋转) / Z 直式固定接头款 |
| 可选吸嘴材质 | PCTFE、PEEK、Vespel 三种,按需选配,兼容 4/5/6/8 英寸硅片 |
| 洁净等级 | 适配 Class100~1000 无尘车间,低发尘、低金属离子析出 |
| 耐化学性 | 耐大部分强酸、强碱、光刻剥离液、各类有机溶剂(浓硫酸除外),浸泡不溶胀、不析出杂质 |
| ESD 防静电 | 导电氟树脂吸嘴,表面电阻率 10⁶~10⁸Ω,消除静电,保护晶圆 PN 结不被静电击穿 |
整支吸笔与药液、晶圆接触部位无不锈钢等金属。普通吸笔在湿法槽内长期浸泡,金属会腐蚀析出金属离子,污染晶圆,造成良率下降;F001 全部 PTFE 材质,化学惰性极强,可直接在清洗槽、蚀刻槽内带液拾取晶圆。 阀体内部采用氟树脂无油自润滑阀芯,内壁镜面抛光,微粒产生量极低,可整体超声波清洗反复复用。
吸嘴采用锁扣快装,无需工具快速更换不同尺寸 / 材质吸盘,一支笔可以兼容多种规格晶圆,降低采购成本。吸盘整片特氟龙面接触晶圆背面,负压均匀分散,避免单点压力造成硅片崩边、隐裂;镜面抛光吸盘不会划伤晶圆正面光刻层、金属线路。
F001-X(万向 X 球头):吸嘴 360° 自由转动,适合狭小腔体、倾斜载片台、药液槽内多角度取片,灵活性高,湿法工序最常用。
F001-Z(直式固定 Z 接头):刚性直杆,无活动转轴,流水线定点垂直取料,长期连续作业不会松动,稳定性更强。
外接真空发生器后,手持笔身,对准晶圆背面,按住按钮吸附,松开释放,单手操作,长时间作业疲劳度低。
半导体晶圆湿法清洗工序:RCA 清洗、酸 / 碱蚀刻、剥离、去胶槽内带药液取放硅片(最主流应用)
FPD 平板显示行业:玻璃基板、超薄光学薄片在化学清洗工位的手动拾取
MEMS、传感器芯片:微型薄片、陶瓷基板在腐蚀药液中的转运
实验室研发:半导体材料、样品薄片在化学实验槽取样
客户痛点旧款金属接头真空吸笔,长期浸泡在 HF + 硝酸混合蚀刻液中,金属接头腐蚀生锈,金属离子污染晶圆,良率持续下跌;普通干式吸笔不能接触药液,无法在槽内直接取片,需要先捞出晶圆,增加碎片风险。选型方案:FLUORO F001-X,PEEK 导电吸嘴,6 寸规格。应用效果
全 PTFE 笔身,可直接浸泡蚀刻药液,无腐蚀、无金属析出,晶圆金属污染缺陷大幅下降;
X 万向球头,清洗槽狭小空间可任意调整角度,槽边直接取放带药液晶圆,减少二次搬运,碎片率下降;
模块化吸嘴,磨损后单独更换吸嘴,不用整支更换,耗材成本降低;
ESD 防静电结构,避免静电击穿芯片 PN 结。小结:湿法腐蚀、化学清洗工位,优先选用 F001-X 万向款。
客户痛点固定清洗工位,垂直上下取放晶圆;万向接头长期反复操作容易松动,吸附不稳,偶尔出现掉片风险,产线为定点标准化作业,不需要多角度旋转。选型方案:FLUORO F001-Z,PCTFE 吸嘴,4 寸晶圆。应用效果
Z 直式刚性接头,无活动转轴,长时间连续作业不松动,吸附稳定性高,杜绝掉片;
PCTFE 吸嘴耐化学均衡,采购成本更低,适合常规粗清洗工序;
笔身轻量化,操作工连续批量取片手腕疲劳减轻。小结:固定工位垂直取片、大批量标准化作业,推荐 F001-Z 直头款。
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