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品牌:MORITEX 茉丽特
产地:日本
型号:SOD-200-22C
400-616-7676转3323
核心参数
仪器介绍
日本进口MORITEX 茉丽特无限远筒镜SOD-200-22C
规格:
规格
SOD-200-22C
焦距
200
有效光圈数
14
最大像面(mm)
33
搭配 MPLFLN 10 倍物镜 使用的规格
焦距
10.61
放大倍率 (x)
11.11
工作距离 (mm)
11
分辨率 (μm)*1
1.1
深 (mm)*2
0.006
NA
0.3
有效光圈数
17.66
最大兼容感光芯片
4/3"
接口
C Mount
型号:SOD-200-22C
焦距:200 mm
最大兼容像面直径:φ22 mm(适配≤2/3" 靶面工业相机)
相机接口:C-Mount
镜筒总长:162.9 mm
配套方式:下端对接无限远显微物镜,上端接 C 口工业相机
同系列衍生型号:
SOD-200-22C-NCL:无同轴光版本
SOD-200-22C-NSWIR:短波红外专用版本(900~1700nm)
标准 200mm 无限远光学设计是工业显微里最通用的 200 焦距筒镜规格,和日系主流无限远物镜光学匹配,不会损失物镜原有分辨率,保证微米级成像清晰度。
C 接口标准化,通用性强直接对接常规 C 口面阵相机,光路搭建简单,方便集成在自动化检测机台。
高透过光学镀膜可见光版本针对 400–700nm 优化,色差校正优秀,畸变小,适合高精度尺寸测量、缺陷观察。
模块化组合可以自由切换 5X、10X、20X、50X、100X 不同倍率物镜,一套筒镜实现多倍率显微检测,降低光学方案成本。
工业级外壳结构适合产线自动化设备长期连续使用,结构稳定,抗震性优于实验室显微镜筒镜。
用途:晶圆表面微观划痕、颗粒、电极、钝化层缺陷检查;芯片焊盘、金线、Micro BGA 观测与尺寸测量。 案例:半导体封测设备厂商,使用 SOD-200-22C 搭配 10X/20X 无限远物镜,搭建在线显微视觉工位,自动扫描晶圆表面微缺陷,识别微米级划伤、污染物。
用途:灯珠像素、电极、发光层缺陷、电极间距测量。 案例:LED 面板产线 AOI,筒镜 + 高倍物镜成像,检查像素断连、电极偏移、表面脏污。
适用:连接器端子、IC 引脚、冲压微结构、模具型腔微观纹路、崩缺检查。 用途:首件检验、来料抽检,测量微小台阶、缝隙、毛刺。
用途:极耳微观形貌、光伏栅线、银线宽度、断栅缺陷显微观测。
搭配千分尺相机、测量软件,做微小零件尺寸标定、对标。
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