进口MORITEX 茉丽特模拟同轴光源MSCL-CR24

进口MORITEX 茉丽特模拟同轴光源MSCL-CR24

外观图：

一、原厂详细技术参数

• 型号：MSCL-CR24

• 发光颜色：红色，峰值波长 620~645nm

• 最大额定电流：0.09 A

• 发光窗口尺寸：18 × 18 mm

• 本体高度：24 mm

• 光路延伸距离：6.8 mm

• 重量：110 g

• 配套控制器：MLEK 系列恒流光源控制器

• 同系列 24 规格对照

• MSCL-CR24：红色

• MSCL-CG24：绿色

• MSCL-CB24：蓝色

• MSCL-CW24：白光

更大尺寸版本：MSCL-CR39、MSCL-CR56-B、MSCL-CR74-B

⚠️核心区分（非常重要，给客户选型重点）

1. MCEP / MCEC 点同轴：MML 镜头自带同轴接口，点光源直接拧进镜头内部同轴通道；仅限带同轴口的 MML 镜头

2. MSCL 模拟同轴（分光镜式）：镜头本身没有同轴光路，光源放在镜头前端，内部内置分光棱镜，人为搭建同轴光路；可以适配普通微距镜头、普通定焦镜头、无同轴版本远心镜头（MML 无同轴款、MTL）

二、产品核心特点与优势

1. 分光棱镜一体化，给无同轴镜头补同轴功能很多远心镜头、微距镜头没有内置同轴通道，无法使用 MCEP/MCEC 点光源；MSCL 就是这类方案的首选，装上之后实现垂直落射同轴照明，镜面工件消除杂反光。

2. 方形匀光照明面，光照均匀、热点少18×18 方形发光区域，内部漫射匀光结构，相比点同轴，中心光斑热点抑制更好，全视场照度一致性高，大面积镜面不容易出现中心过曝。

3. 红光版本信噪比高，适合硅、金属、ITO 导电层红光色散低，在晶圆、抛光金属、透明导电薄膜检测场景，边缘提取稳定，不容易产生彩色杂光干扰。

4. 结构紧凑，厚度仅 24mm棱镜光路集成在小型方壳内，安装在镜头前端，占用空间不大，方便集成在 AOI 工位。

5. 支持频闪触发，适配高速相机搭配 MLEK 控制器，支持外部触发频闪，缩短曝光，抑制运动模糊，适合高速在线检测。

⚠️ 短板提醒

1. 会有一定光损（分光棱镜分光损耗），同等电流下照度弱于 MCEP 大功率点同轴；

2. 窗口 18×18，成像视野不能超过这个范围，视野超过 18mm 不能用 MSCL-CR24，要选更大 MSCL-CR39 等型号；

3. 放在镜头前端，会增加前端总长，要注意工件、治具干涉；

4. 不能和镜头自带同轴口叠加使用，二选一。

三、行业用途 & 案例分析

1. 无同轴款远心镜头（MML-NCL、MTL）镜面工件检测（主力场景）

用途：客户选用不带内置同轴的远心镜头，但又需要同轴光拍镜面样品。 案例：MTL 大视野双远心检测 O 型圈、金属法兰；MML-NCL 无同轴远心检测镀金连接器端子，加装 MSCL-CR24 实现垂直同轴照明，消除金属表面杂乱反光，稳定检出划痕、压伤、缺口。

2. 普通微距镜头（ML-MC 系列）镜面零件外观检查

用途：ML-MC25AR 这类微距镜头没有同轴通道，检测抛光模具、蓝宝石衬底、摄像头模组镜筒、光学镜片表面划痕脏污。 案例：摄像头模组 AOI，微距镜头前端加装 MSCL-CR24，同轴红光观察镜头封胶面溢胶、气泡、表面脏点。

3. 半导体晶圆、晶粒 Mark 定位、表面复检

用途：硅片定位标记、晶粒焊盘外观，方案选用不带同轴的远心镜头时配套使用。 案例：成本优先方案，不想采购带同轴口版本的高价远心镜头，改用普通远心 + MSCL 模拟同轴组合。

4. FPD、ITO 导电玻璃、光学薄膜缺陷检测

用途：ITO 线路断线、针孔、薄膜表面划痕；透明导电层缺陷斜光源很难看清，同轴垂直照明对比度最好。

5. 影像测量机改造、半自动离线量测设备

原有镜头无同轴功能，前端加装 MSCL 模拟同轴，用于镜面零件轮廓、台阶、表面缺陷观测。

✅选型快速判断 ✅镜头自带同轴接口 → MCEP / MCEC 点同轴 ✅镜头无同轴通道，需要同轴落射、视野≤18mm → MSCL-CR24 ✅视野更大 → MSCL-CR39 / CR56-B