KOSAKA 小坂研究所非接触式轮廓形状测定机EF550A 系列

EF550A 系列

KOSAKA 小坂研究所高精度台式表面粗糙度・轮廓测量机SE800 系列

SE800 系列

KOSAKA 小坂研究所无线便携式表面粗糙度轮廓测定机SE500pro

SE500pro系列

KOSAKA 小坂研究所便携式表面粗糙度轮廓测定机 SE300pro

SE300pro

OTSUKA 大塚电子单元间隙检测装置 RETS 系列

RETS 系列

OTSUKA 大塚电子彩色滤光片光谱特征测量装置 LCF 系列

LCF 系列

OTSUKA 大塚电子分光配光（光谱分布测量）系统 GP 系列

GP 系列

OTSUKA 大塚电子 高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE‑5000

QE-5000

OTSUKA 大塚电子 量子效率（量子产率）测量系统QE‑2100

QE‑2100

OTSUKA 大塚电子高速重放（高速相位差）测量装置RE‑200

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OTSUKA 大塚电子 延迟（相位差）测量装置RETS‑100nx

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OTSUKA 大塚电子加载端口兼容薄膜厚度测量系统GS‑300

GS‑300

OTSUKA 大塚电子光谱干涉晶圆厚度计 SF‑3 系列

SF-3

OTSUKA 大塚电子 光谱椭偏仪 FE‑5000 系列

FE‑5000 系列

OTSUKA 大塚电子 智能薄膜测厚仪SM‑100 系列

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OTSUKA 大塚电子胶片厚度监视器 FE‑300F

FE‑300F

OTSUKA 大塚电子显微光谱薄膜厚度计OPTM 系列

OPTM 系列

OTSUKA 大塚电子多通道光谱仪 MCPD‑6800

MCPD‑6800

OTSUKA 大塚电子多通道光谱仪 MCPD‑9800

MCPD‑9800

OTSUKA 大塚电子 动态光散射光度计DLS‑6500 系列

DLS‑6500 系列

OTSUKA 大塚电子动态光散射光度计DLS‑8000 系列

DLS‑8000 系列

OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒径测试系统nanoSAQLA

nanoSAQLA

OTSUKA 大塚电子 Zeta 电位・粒径测试系统ELSZneo

ELSZneo

OTSUKA 大塚电子 Zeta 电位・粒径测试系统 ELSZneoSE

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